固体・表面分析
概要
電子線やX線を物質に照射し、物質表面から放出される電子や特性X線と呼ばれる物質固有のX線を用いて、物質表面の成分や結合状態を評価します。測定手法により分解能等が異なるため、物質に合わせて測定方法を選ぶ必要があります。
このサイトはKISTEC CONNECTです
電子線やX線を物質に照射し、物質表面から放出される電子や特性X線と呼ばれる物質固有のX線を用いて、物質表面の成分や結合状態を評価します。測定手法により分解能等が異なるため、物質に合わせて測定方法を選ぶ必要があります。
微小部蛍光X線分析(XRF) 蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線...
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(...
細く絞った電子線を固体表面に照射することにより、微小領域の元素分析ができます。変色や腐食・破壊等の不...