2026年3月17日

複合ナノ粒子のTEM観察事例

川崎技術支援部

溝の口

酸化チタン粒子の表面に金ナノ粒子を担持させた材料(光触媒)で、粒子の径や分散状態をTEM観察で明らかにしました。

＜使用機器＞
分析透過電子顕微鏡（FE-TEM/EDS）

＜作業工程＞

試料前処理（分散ふりかけ法）　　→　　TEM観察

＜納期＞
担当職員にお問い合わせください。

使用機器

観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。
NO.	項目	単位	料金
K120413-01	分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　 10万倍以下	倍率　10万倍以下　１視野につき	19,470
K120413-03	分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　 10万倍を超えて50万倍以下	倍率　10万倍を超えて50万倍以下　１視野につき	25,850
K120413-07	分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　 200万倍を超えるもの	倍率　200万倍を超えるもの　１視野につき	51,590
K120413-08	分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]　 200万倍を超えるもの　１視野増	倍率　200万倍を超えるもの　１視野増すごとに	29,590

依頼試験（KISTEC事業名：試験計測）、委託受託（KISTEC事業名：技術開発受託）で利用できます。