分析事例を見る ANALYSIS CASE STUDY
お客様の技術課題に対して、KISTECの依頼試験と委託開発をご利用いただいた事例をご紹介いたします。
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金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例
Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
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光学多層薄膜上の異常部の解析事例
光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 膜材
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析
めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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携帯電話ケース異常突起物の断面解析例
＜使用機器＞ 精密機械研磨装置（EM-TXP） 光学顕微鏡 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- #光学顕微鏡
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例
ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモル...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #微細加工
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FIB-マイクロサンプリング法によるTEM試料作製事例
透過電子顕微鏡（TEM）の観察は、観察対象とするサンプルを約100nm以下の厚さに加工しなければ電子...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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鉄鋼材料の転位のSEM観察事例
平面イオンミリング加工した鉄鋼材料の表面を観察し、転位を観察しました。 ＜試料＞鉄鋼材料 ...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- #電子顕微鏡
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表面改質金属の断面解析例
微粒子ピーニング処理により表面改質させた金属を断面方向から可視化することで、表面付近の内部構造を明ら...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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粘着部の低真空SEM観察事例
付箋の粘着部を無蒸着で見るため、低真空モードを使用しSEM観察を行いました。 ＜試料＞市販の粘...
川崎技術支援部
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- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #形状観察
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MOCVD法で作製したβ-FeSi2薄膜の結晶粒観察事例
単結晶基板上にMOCVD法で作製したβ-FeSi2膜の結晶性、結晶サイズ、膜厚を断面方向からの観察で...
川崎技術支援部
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