分析事例を見る ANALYSIS CASE STUDY
お客様の技術課題に対して、KISTECの依頼試験と委託開発をご利用いただいた事例をご紹介いたします。
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ポリエチレンのラメラのSEM観察事例
ポリエチレンの表面・内部構造をSEM、SEM-STEMにて観察しました。 <試料>...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
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金めっき異常部の断面解析事例
金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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イオンミリングを活用しためっき層のSEM観察事例
Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
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光学多層薄膜上の異常部の解析事例
光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 膜材
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析
めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 塗装・メッキ製品
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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HIPSの三次元解析事例
FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽...
川崎技術支援部
- 固体・表面分析
- 高分子材料
- #微細構造解析
- #組織観察
- #組成分析
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X線透過観察事例
観察例1 PCのCPU PCのマザーボードに搭載されたCPUの透過画像 通常のICはリー...
川崎技術支援部
- 非破壊検査
- 電気・電子製品
- 機械製品
- #内部観察機器
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ワイヤボンディングの断面SEM観察事例
精密機械研磨により、ワイヤボンディングのような微小部位の断面作製が可能です。イオンミリング装置と組み...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 電気・電子製品
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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FE-SEMによる磁気フィルム表面のSEM観察画像と面分析
EDS（エネルギー分散型X線分析装置）の面分析機能を使用するとどの成分が何処にあるのかが解ります。＜...
川崎技術支援部
- 外観観察
- 固体・表面分析
- セラミックス・無機酸化物
- 膜材
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #組成分析
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携帯電話ケース異常突起物の断面解析例
＜使用機器＞ 精密機械研磨装置（EM-TXP） 光学顕微鏡 電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- #光学顕微鏡
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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ミクロトームを活用したHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）のSEM観察事例
ミクロトームを活用することでHIPS（耐衝撃性ポリスチレン）を広範囲で観察し、サブミクロン領域のモル...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #形状観察
- #微細加工
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マイクロカンチレバーの作製・測定事例
マイクロカンチレバー※を作製し、その試験片を用いて、材料表面（微小領域）の強度測定を行えます。 ...
川崎技術支援部
- 強度試験
- 金属材料
- セラミックス・無機酸化物
- #電子顕微鏡
- #微細加工