分析事例を見る ANALYSIS CASE STUDY

本法により、光触媒の分解試験をさまざまな臭気成分に対して実施することが可能です。各種臭気成分に対して...

川崎技術支援部

• 光触媒評価

• 光触媒

• #空気浄化
• #光触媒

イオンミリング装置を使用し、有機モノリス構造体の構造観察を行いました。 ＜試料＞有機モノリス構...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• セラミックス・無機酸化物
• 高分子材料
• 多孔質材

• #電子顕微鏡
• #形状観察

FIBで加工した断面を、SEMで斜め上から観察します。 FIB-SEMによるコ...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 金属材料
• 塗装・メッキ製品

• #電子顕微鏡
• #微細加工
• #組成分析

シーリング不良により熱溶着差の生じたポリエチレンフィルムにおいて、断面観察を行い界面の様子を明らかに...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 高分子材料
• 膜材

• #微細構造解析
• #破面
• #電子顕微鏡

試料を電子染色することで、高分子材料である中空糸の断面構造をSEMにて高コントラストに観察しました。...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 高分子材料

• #電子顕微鏡
• #形状観察

リチウムイオン電池セパレータの表面および断面の構造観察を行いました。断面作製には、クライオイオンミリ...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 多孔質材
• 二次電池

• #電子顕微鏡
• #形状観察

ポリエチレンの表面・内部構造をSEM、SEM-STEMにて観察しました。 <試料>...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 高分子材料

• #電子顕微鏡

金めっき上に確認された異常部の原因について、FIB-SEMを用いて調査しました。 ＜試料＞試料...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 金属材料
• 塗装・メッキ製品

• #電子顕微鏡
• #形状観察
• #組成分析

Au/Ni/Cu(母材)の各層の膜厚やピンホール等の断面構造を明らかにしました。 ＜試料＞Au...

川崎技術支援部

• 微細構造観察

• 金属材料
• 塗装・メッキ製品

• #電子顕微鏡
• #形状観察

光学多層薄膜上にて確認された、突起のような異常部の発生原因について調査しました。 ＜試料＞光学...

川崎技術支援部

• 微細構造観察
• 固体・表面分析

• 膜材
• 電気・電子製品

• #電子顕微鏡
• #形状観察
• #組成分析

めっき表面に発生した変色部分の断面観察および分析をすることで、変色の原因を調査しました。 ＜試...

川崎技術支援部

• 微細構造観察
• 固体・表面分析

• 金属材料
• 塗装・メッキ製品

• #電子顕微鏡
• #形状観察
• #組成分析

FIB-SEMシリアルセクショニング法※を用いて、耐衝撃性ポリスチレン（HIPS）中のブタジエンの抽...

川崎技術支援部

• 固体・表面分析

• 高分子材料

• #微細構造解析
• #組織観察
• #組成分析