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2026年6月23日
「試験計測等料金表」令和8年7月1日改定のお知らせ
「試験計測等料金表」が令和８年7月１日から改定されます。
また、同日付で以下のとおり、試験項目が新設・削除されます。
試験項目の新設
試験計測料金（新設項目：7件）
材料観察：微細構造観察
単位：円
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E120414-01 | 走査型プローブ顕微鏡（高精細）観察 | 標準１条件１測定につき | 36,410 | 電子技術部 |
| E120414-02 | 走査型プローブ顕微鏡（高精細）観察 １視野追加 | １視野追加につき | 20,680 | 電子技術部 |
性能評価：半導体・実装
単位：円
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E160714-01 | 触針式薄膜段差計による膜厚測定 | 標準１測定につき | 4,730 | 電子技術部 |
性能評価：太陽電池評価
単位：円
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| K161617-01 | 30cm角LED-SSによる光照射 | 12時間につき | 75,900 | 川崎技術支援部 |
| K161617-02 | 30cm角LED-SSによる光照射 追加 | 追加12時間につき | 69,300 | 川崎技術支援部 |
性能評価：塗膜・めっき性能評価
単位：円
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E162820-01 | 耐熱性試験（中温） | １試料200℃まで６時間につき | 1,980 | 化学技術部 |
| E162821-01 | 耐熱性試験（高温） | １試料500℃まで６時間につき | 2,970 | 化学技術部 |
機器使用料金（新設項目：1件）
性能評価：半導体・実装
1時間あたり 単位：円
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E260726-01 | 触針式薄膜段差計 | ブルカージャパン Dektak Pro-A | 6,270 | 電子技術部 |
試験項目の削除
試験計測料金（削除：２件）
性能評価： 半導体・実装
単位：円
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E160713-01 | 触針式膜厚測定 | １測定につき | 4,400 | 電子技術部 |
性能評価：塗膜・めっき性能評価
単位：円
| No. | 項目 | 単位 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E162819-01 | 耐熱性試験 | １試料500℃まで８時間につき | 2,420 | 化学技術部 |
機器使用料金（削除：1件）
性能評価：半導体・実装
1時間当たり 単位：円
| No. | 設備機器名 | メーカー・型式 | 料金 | 担当部名 |
|---|---|---|---|---|
| E260725-01 | 触針式膜厚計 | 小坂研究所 ET4000AKR | 2,090 | 電子技術部 |