「試験計測等料金表」が令和８年10月１日から改定されます。
また、同日付で以下のとおり、試験項目が新設・名称変更・削除されます。

試験項目の新設

試験計測料金（新設項目：1件）

性能評価：音響

単位：円

No.	項目	単位	料金	担当部名
E164623-01	音響インテンシティ測定	１測定面につき	13,310	機械・材料技術部

機器使用料金（新設項目：1件）

その他：研究生の指導

単位：円

No.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E270404-01	機器操作指導料（機器使用に適用）15分当たり	指導員１人、15分当たり	3,080

試験項目の名称変更

機器使用料金（名称変更：1件）

その他：研究生の指導

単位：円

No.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
K270401-01	機器操作指導料（機器使用に適用）15分当たり	指導員１人、15分当たり	3,080	川崎技術支援部

試験項目の削除

試験計測料金（削除：20件）

材料観察：微細構造観察

単位：円

No.	項目	単位	料金	担当部名
K120443-01	集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]	１時間以内	33,880	川崎技術支援部
K120443-02	集束イオンビーム装置（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]　追加	追加１時間当たり	28,820	川崎技術支援部
K120446-01	FIBオプション　カーボン膜デポジション	10分当たり	2,420	川崎技術支援部
K120446-02	FIBオプション　アルゴンイオンミリング	30分当たり	11,330	川崎技術支援部
K120449-01	FIB付属のSEM観察	１試料１視野観察につき	20,680	川崎技術支援部
K120449-02	FIB付属のSEM観察　視野追加	同一試料において１視野追加観察につき	4,620	川崎技術支援部
K120449-03	FIB付属のSEM観察　条件追加	同一試料において１条件追加につき	4,620	川崎技術支援部
K120452-01	FIB付属のSEMオプション　EDS分析測定　点分析	点分析１視野１箇所につき	17,050	川崎技術支援部
K120452-02	FIB付属のSEMオプション　EDS分析測定　点分析追加	点分析同一視野内で１箇所追加につき	5,830	川崎技術支援部
K120452-03	FIB付属のSEMオプション　EDS分析測定　線分析	線分析１視野１箇所につき	22,880	川崎技術支援部
K120452-04	FIB付属のSEMオプション　EDS分析測定　線分析追加	線分析同一視野内で１箇所追加につき	8,910	川崎技術支援部
K120452-05	FIB付属のSEMオプション　EDS分析測定　面分析	面分析１視野につき	34,650	川崎技術支援部
K120452-06	FIB付属のSEMオプション　EDS分析測定　各種データ処理	各種データ処理１条件につき	5,830	川崎技術支援部
K120455-01	FIB-SEMによる　三次元再構築用連続断面画像の取得	１測定につき	113,740	川崎技術支援部
K120455-02	FIB-SEMによる　三次元再構築用連続断面画像の取得　条件追加	１条件追加につき	12,100	川崎技術支援部
K120458-01	FIB-SEMによる　微小試験片の作製　標準	標準的な作製　（SEM観察含む）　５本につき	182,160	川崎技術支援部
K120458-02	FIB-SEMによる　微小試験片の作製　複雑	複雑な作製　（SEM観察含む）　５本につき	273,130	川崎技術支援部
K120458-03	FIB-SEMによる　微小試験片の作製　条件追加	１条件追加につき	11,550	川崎技術支援部

性能評価：音響

単位：円

No.	項目	単位	料金	担当部名
E164619-01	音響パワーレベル測定	１測定につき	11,110	機械・材料技術部
E164622-01	音圧分布測定	１測定につき	16,610	機械・材料技術部

機器使用料金（削除：1件）

性能評価：音響

1時間当たり　単位：円

No.	設備機器名	メーカー・型式	料金	担当部名
E264604-01	音響インテンシティ測定装置	小野測器　CF6400INT/MOD	11,110	機械・材料技術部