川崎・溝の口で、様々な現象解析(破損・変質、劣化等) 微細構造解析、環境試験、評価試験に対応します。
- 生産ライン、市場で発生する様々な材料トラブルの原因究明サポートを実施しています。
- 材料の微細構造を解析し、材料に発現する様々な機能の可視化をサポートしています。
- 様々な環境を提供し、材料、製品の耐久特性の可視化をサポートしています。
- 光触媒、太陽電池の評価を、国内外から受託し、製品開発までサポートしています。
担当分野のご紹介
川崎技術支援部では、以下の測定分野で業務を行っています。
材料解析分野
光学顕微鏡による金属の組織観察やX線光電子分光分析による極表面分析、FT-IRによる有機材料の分析など広範囲にわたり材料の解析をおこなっています。
微細構造解析分野
SEM, TEM, FIBおよび周辺機器を使用して材料の微細構造解析および機能発現のメカニズム解明サポートをおこなっています。
光機能分野
光触媒機能評価をはじめとして、太陽電池の発電性能評価、各種材料の光学特性評価、光照射による劣化加速試験などをおこなっています。
光触媒ミュージアムのご案内
光触媒に関するデモ機や応用製品の展示(常時40点以上)を通し、光触媒技術への理解を深め、身近に感じることができます。
担当の各分野のご紹介
川崎技術支援部では、以下の測定分野で業務を行っています。
材料解析分野
光学顕微鏡による金属の組織観察やX線光電子分光分析による極表面分析、FT-IRによる有機材料の分析など広範囲にわたり材料の解析をおこなっています。
測定機器のご紹介
XPSやFT-IR、光学顕微鏡などを用いた機器分析を行っています。
機器名 メーカー・型式 | 概要 |
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走査型X線分光分析装置(μ-XPS・μ-ESCA) アルバック・ファイ Quantera SXM | 試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(水素、ヘリウム以外)、半定量分析(検出限界値~0.1at%程度)および化学結合状態分析ができます。 |
フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) 日本分光 FT/IR-6300FV、IRT-7000 | フーリエ変換赤外分光光度計は樹脂やゴム、油、接着剤などの有機化合物の構造を解析する分析装置の一つで、異物混入や構造部材の材質違いなど製品トラブルの初期段階で目星をつけるために利用されます。 |
微小部蛍光X線分光装置(XRF) SIIナノテクノロジー SEA6000VX HSFinder | 蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。 |
金属顕微鏡 オリンパス BX51 | 光を上から照射して、その反射光線の反射程度により表面状態を調べる顕微鏡です。主として金属材料の研磨面を観察します。 |
デジタルマイクロスコープ キーエンス VHX-600 | 実体顕微鏡と金属顕微鏡の機能を一台に集約し計測機能も装備した光学顕微鏡 |
マイクロフォーカスX線検査装置(μF-X線) メディエックステック MXT-160UU | 物質によるX線の透過率の差を利用して、微小な部品、BGA、CSP、デバイスなどの内部に存在する亀裂や欠陥を非破壊で観察することができます。 |
硬さ試験機 | 金属材料やセラミックスの機械的特性である硬さを測定します。 |
温湿度環境試験機一覧表
製品が温湿度に対しどのくらいの耐久性を持っているか加速試験を行います。
各機器の空き状況は、機器スケジュールページでご確認いただけます。
電磁環境試験機一覧表
製品がどの程度の電磁波を発生しているか、外部からの電磁妨害にどの程度耐えられるかなどを測定します。
各機器の空き状況は、機器スケジュールページでご確認いただけます。
微細構造解析分野
SEM, TEM, FIBおよび周辺機器を使用して材料の微細構造解析および機能発現のメカニズム解明サポートをおこなっています。
測定機器のご紹介
FE-SEM, FE-TEM, FIB-SEM, イオンミリング装置, ミクロトーム, 精密機械研磨等のご紹介ページです。
分析事例のご紹介
表面観察・分析, 断面観察・分析, 三次元解析, 電子線回折等の分析事例をご紹介します。
光機能分野
光触媒機能評価をはじめとして、太陽電池の発電性能評価、各種材料の光学特性評価、光照射による劣化加速試験などを行っています。
光触媒評価のご紹介
JIS規格で規定されている試験以外の評価にも対応しております。
太陽電池評価のご紹介
さまざまな環境下における太陽電池の発電性能評価に対応しております。
光学特性評価のご紹介
材料の透過率・反射率や光源のスペクトル測定などを行っております。
光劣化促進試験のご紹介
材料に疑似太陽光や紫外線を照射して劣化を促進させることができます。
劣化促進試験をおこなうことで、材料・製品の寿命を予測することができます。
SIAA(抗菌製品技術協議会)が定める抗菌・抗カビ・抗ウイルス製品の持続性試験である耐光性試験、耐光試験後の抗菌・抗ウイルス試験につきましても可能です。
※抗菌・抗ウイルス性能評価サービスは、KISTECコーポレートサイトでご案内しています。
川崎技術支援部へのお問い合わせ
【溝の口支所】〒213-0012 川崎市高津区坂戸3-2-1 KSP東棟1F
無料技術相談フォーム「相談分野に対応する部署:川崎技術支援部」を選択し、お問い合わせください。