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電気機器・接地回路の抵抗測定
電気製品における保護接地回路の抵抗測定（電気的安全性評価）JIS C6950-1, T0601-1 ...
電子技術部
- 電気計測・試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #安全性評価
- #性能評価
- #電気計測機器
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電気機器・耐電圧試験
電子機器／部品、絶縁材料などの絶縁耐力を測定。JIS、電気用品安全法 等の各種規格に対応し、以下の測...
電子技術部
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- #安全性評価
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- #電気計測機器
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電気機器・漏れ電流測定
電気製品における漏えい電流の測定（電気的安全性評価）JIS C6950-1, T0601-1, 電気...
電子技術部
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- #電気計測機器
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低抵抗測定
電子部品等の電気抵抗測定 【試験対象】 電子部品 【関連キーワード】 ミリオームメータ
電子技術部
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電流電圧測定
電子回路等における電流または電圧の測定 【試験対象】 電子回路
電子技術部
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適合性試験（FL-net）
FL-netに接続するための新規の製品の各項目における個別の動作をJEM1480の試験方法により確認...
情報・生産技術部
- ネットワーク試験
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #FL-net
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ホール効果測定
試料に電圧を印可して電流測定を行うことで抵抗率（比抵抗）を評価します。また、磁場を印可することで伝導...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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光干渉式膜厚測定
半導体プロセスにおける各種膜を光学式により非接触で膜厚測定します。 【試験対象】 SiO2（酸...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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酸化拡散試験
酸素や水蒸気を利用し、Si（シリコン）ウェハへ熱酸化により、酸化膜の形成を行います。また、Siウエハ...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
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低温光特性評価
クライオスタットを用いて５Kまでの極低温に冷却が可能です。ガラス窓を備えており、光学特性評価が可能で...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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高分解能（１nm以下）フォトルミネッセンス測定
半導体中の不純物（ドーピング元素）をスペクトルピーク値から定性分析し、ピーク強度から半定量分析します...
電子技術部
- 半導体・実装
- 性能評価
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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フォトルミネッセンス測定
試料に光を照射して物質が発する光（蛍光）を定性、定量評価。 半導体、蛍光体の発光特性評価より、不純物...
電子技術部
- 半導体・実装
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- #半導体特性評価