2024年8月21日
走査電子顕微鏡写真撮影
材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察
【試験対象】
各種材料および機械部品
【関連キーワード】
走査電子顕微鏡写真撮影（SEM：Scanning Electron Microscope）
使用機器
![走査電子顕微鏡（電界放出型・FE-SEM/EDS/EBSD）[JSM-7800F Prime]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/fe-sem-visual-JSM7800FPrime.jpg)
![走査電子顕微鏡（汎用SEM/EDS/LV）[JSM-IT200LA]](https://www.kistec.jp/connect/verbinden/wp-content/uploads/SEM_shuusei-scaled.jpg)
料金
| NO. | 項目 | 単位 | 料金 |
|---|---|---|---|
| E120401-01 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 | １試料１視野観察につき | 21,120円 |
| E120401-02 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 4,840円 |
| E120401-03 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 | １試料１視野観察につき | 30,910円 |
| E120401-04 | 走査電子顕微鏡写真撮影 ５万倍を超えて10万倍以下 １視野追加 | １視野追加観察につき | 9,240円 |
| E120401-05 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの | １試料１視野観察につき | 52,250円 |
| E120401-06 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10万倍を超えるもの １視野追加 | １視野追加観察につき | 14,960円 |
| E120401-07 | 走査電子顕微鏡写真撮影 10～15視野 | 10～15視野 | 115,940円 |
| E120401-08 | 走査電子顕微鏡写真撮影 16～30視野 | 16～30視野 | 173,910円 |
| E120401-09 | エネルギー分散型X線分析（EDS） （E120401-01～E120401-08, E120404-01に適用） | １ヶ所につき | 7,150円 |