依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
FE-SEM 7800Fの外観写真 最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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電波透過特性測定（マイクロ波帯）
本試験では、電子材料が電波を「どの程度通すか（透過特性）」を評価します。※ご要望に応じて、電波の反射...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 磁性材料
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #試験計測
- #技術開発受託
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電波吸収率測定（簡易アンテナ法）
本試験では、マイクロ波帯域における電子材料の電波吸収性能を測定します。電波吸収材料が入射した電波をど...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 磁性材料
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #性能評価
- #高周波特性評価
- #電磁ノイズ
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マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）
本試験では、ベクトル・ネットワーク・アナライザ（VNA）を用いたSパラメータ測定により、電子材料など...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- 電子材料
- #高周波特性評価
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マイクロ波誘電率測定（ＢＣＤＲ法）
周波数範囲 10GHz～67GHz において、材料の誘電率および誘電正接（誘電損失）を測定します。 ...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 電子材料
- #製品開発
- #技術開発
- #試験計測
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マイクロ波誘電率測定（共振器法・誘電体プローブ法）
本試験では、ベクトル・ネットワーク・アナライザ（VNA）を使用し、マイクロ波帯域における電子材料の誘...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 電子材料
- #高周波特性評価
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マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（プローバー測定）
ネットワークアナライザとプローバー装置を組み合わせ、高周波用途のフレキシブルプリント基板（FPC）配...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #高周波特性評価
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放射妨害波測定
電器製品から輻射される電磁ノイズの測定 【ご連絡】装置校正のため、予約を停止していた放射妨害波...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #VCCI
- #CISPR
- #IEC
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高コントラスト包埋剤の試用
＊現在、運用停止中。
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #前処理
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
FE-SEM S4800 ・材料の表面形態観察を30倍から80万倍の範囲で観察できます。・光学...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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熱伝導率測定（フラッシュ法）
・室温から500℃の範囲で熱物性（熱拡散率と比熱）の評価が可能 ・無機材料や有機材料の固体測定...
電子技術部
- 熱物性測定
- 金属材料
- 無機材料
- セラミックス・無機酸化物
- #熱分析
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薄膜熱拡散率測定（温度波分析法）
・薄膜・微小試料（10 μm厚さ・1 mm角等）の熱拡散率の評価が可能 ・単層の無機材料や有機...
電子技術部
- 熱物性測定
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #熱分析