技術概要

本測定では、マイクロ波帯からミリ波帯における高周波伝送特性を、4ポートのベクトル・ネットワーク・アナライザ（VNA）を用いて評価します。（周波数範囲：10MHz〜67GHz）

プリント基板配線、ケーブル、コネクタ、アンテナなどを対象に、伝送損失、反射減衰量、インピーダンス不連続を周波数領域および時間領域の両面から解析できます。

さらに、PLTS（物理層テストシステム）を使用して、高速差動信号向けに4ポートを用いたミックスドモードSパラメータ測定やアイパターン解析にも対応しています。

※VNAとの接続には、SMAコネクタなど高周波対応の同軸コネクタが必要です。

○シングルエンドSパラメータ測定（周波数領域）
　高周波信号の振る舞いを周波数ごとに評価します。1ポートから4ポートまで対応しています。

• 反射特性（S11、S22 、S33、S44など）
• 伝送特性（S21、S12、S31、S42 など）
• 挿入損失、反射損失、クロストーク

　高周波信号がどの程度減衰・反射するかを定量的に把握できます。

○TDR測定（時間領域反射測定）
　信号の反射を時間軸で解析し、伝送線路の状態を可視化します。

• 特性インピーダンス
• 配線形状変化や接続部による不連続点の位置特定
• 配線・実装品質の確認

　設計上の問題箇所を直感的に把握でき、トラブルシューティングに有効です。

○4ポートのミックスドモードSパラメータ測定
　差動信号（Differential Signal）を想定した評価として、4ポートVNAを用いたミックスドモードSパラメータ測定に対応しています。

　測定したシングルエンドSパラメータを差動成分・同相成分に変換することで、以下の特性を評価できます。

• 差動反射/伝送特性（Sdd）
• 同相反射/伝送特性（Scc）
• 差動成分から同相成分への変換（モード変換：同相⇒差動　Sdc／差動⇒同相　Scd）
• 差動線路のバランス性能

　高速デジタル伝送や差動配線の信号品質・ノイズ耐性の評価に適しています。

○アイパターン解析
　Sパラメータの測定結果をもとに、PLTS（物理層テストシステム）を使って、
　ケーブルやプリント基板配線における高速デジタル信号のアイパターン解析を行うことができます。

• アイ開口（縦・横マージン）
• ジッタ、ノイズの影響評価
• 波形歪みの確認

　実際のデータ伝送品質を視覚的に評価でき、
　高速インターフェースや通信規格への適合性確認に有効です。
　※認証試験には対応していません。
　※本解析はシミュレーションです。能動素子を含む非線形回路は解析できません。

試験対象

• 高速・高周波用プリント基板、フレキシブル基板（FPC）
• 差動配線・高速伝送ライン、同軸ケーブル、フレキシブルケーブル
• 高周波用の分配器、フィルタ回路、プリアンプ　など
• アンテナ（共振周波数測定、VSWR測定）

主な用途

• 高速デジタル回路・差動信号設計の検証
• 伝送損失・反射・不連続の原因解析
• アイマージン評価による信号品質確認
• 5G／6Gなど無線通信機器の反射/伝送特性評価

保有する同軸校正キット

• 3.5mmコネクタ（SMAコネクタと互換性あり）：26.5GHzまで
• 2.92mm Kコネクタ：40GHzまで
• 2.4mmコネクタ：50GHzまで
• 1.85mm Vコネクタ：67GHzまで（E-calのみ）
• 7mm APC-7コネクタ：18GHzまで
• 上記以外のコネクタの場合は、変換アダプタを使用して測定します。
  測定結果には、変換アダプタの特性も含まれます。

さらに高度な評価をご希望の場合は、委託開発サービスをご利用ください

以下のような評価・解析にも対応しています。

• 電波暗室（3m法）を用いたアンテナ特性評価
• 電波暗室（3m法）を用いた電磁波シールド材・電波吸収材の性能評価
• 温湿度環境下での複合試験
• 電磁界シミュレーション（CST Studio Suite）を活用した測定結果の検証

このほか、お客様のご要望に応じた評価・解析も承ります。お気軽にご相談ください。
※料金はご依頼内容に応じて個別にお見積りいたします。

使用機器

料金

NO.	項目	単位	料金
E161007-01	マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（Sパラメータ・TDR測定）	１条件１測定につき	18,040円
E161007-02	マイクロ波・ミリ波伝送特性測定（Sパラメータ・TDR測定）　 １件増	１測定増すごとに	4,730円

担当部署

電子技術部　電磁環境グループ