本試験では、ベクトル・ネットワーク・アナライザ（VNA）を用いたSパラメータ測定により、電子材料などの誘電率および透磁率を同時に測定します。

材料中での電波の伝わり方や吸収特性を評価でき、電波吸収材など、損失の大きい材料の特性評価に特に適しています。

測定対象や周波数帯に応じて、複数の測定手法を使い分けることが可能です。

※サンプルの厚さにつきましては、サンプルの誘電率および透磁率、ならびに測定周波数により最適な値が異なります。

測定方法・周波数範囲

　○同軸管法
　　・20D（200MHz～4GHz）　同軸管寸法：内径8.6ｍｍ、外径20.0mm
　　・APC7（500MHz～18GHz）　同軸管寸法：内径3.04ｍｍ、外径7.0mm
　　広い周波数範囲で連続的に測定でき、材料特性の周波数依存性評価に適しています。
　　※サンプル加工が難しいです。

　○導波管法（方形導波管）
　　・5GHz帯（3.9GHz〜5.9GHz）　導波管内径：47.55mm×22.15mm
　　・10GHz帯（8.2GHz〜12.5GHz）　導波管内径：22.86mm×10.16mm
　　・24GHz帯（18GHz〜26.5GHz）　導波管内径：10.67mm×4.32mm
　　特定周波数帯で測定が可能です。
　　※サンプル加工が比較的容易です。

　○ホーンアンテナ法（自由空間法）
　　・5.8GHz～18GHz
　　・18GHz〜40GHz　
　　非接触で測定でき、板材や大型サンプルの評価に適しています。

試験対象

　電子材料、電波吸収材、高分子材料、セラミックスなど

関連キーワード

　同軸管法、導波管法、自由空間法、Sパラメータ法、誘電率、誘電正接、透磁率

使用機器

料金

NO.	項目	単位	料金
E131604-01	マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）	１条件１測定につき	17,600円
E131604-02	マイクロ波誘電率・透磁率測定（Ｓパラメータ法）　１件増	１測定増すごとに	4,950円

担当部署

電子技術部　電磁環境グループ