2025年8月20日

半導体パラメータ測定

電子技術部
海老名
  • 半導体・実装
  • 電気・電子製品
  • #半導体特性評価

半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の関係）などを測定します。

測定装置の仕様については使用機器のページをご覧ください。

測定例

以下の図にSiショットキーバリアダイオードとSiCショットキーバリアダイオードのI-V特性を測定した例を示します。縦軸は電流値を対数軸で示しており、100fAから100mAまで測定しています。

ショットキーバリアダイオードのI-V特性の測定例（グラフ）
ショットキーバリアダイオードのI-V特性の測定例

使用機器

半導体デバイスアナライザ

料金

NO. 項目 単位 料金
E160752-01 半導体パラメータ測定 １時間当たり 7,260円

担当部署

電子技術部　電子デバイスグループ