依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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高圧示差走査熱量測定
加圧下での示差走査熱量測定物質を温度制御プログラムにより昇降温した際の熱の出入りを測定する示差走査熱...
化学技術部
- 熱物性測定
- 無機材料
- 高分子材料
- #熱分析
- #加圧
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熱機械測定（ＴＭＡ）
試料の温度変化に伴う寸法（長さ）の変化挙動を測定する試験です。高分子材料、金属材料、無機材料等の試料...
化学技術部
- 熱物性測定
- 高分子材料
- #熱分析
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サーモグラフィによる表面温度測定
サーモグラフィ（赤外放射温度計）により表面温度を測定します 【試験対象】 繊維 【関連キ...
化学技術部
- 熱物性測定
- 電気・電子製品
- 繊維製品
- #温度測定
- #性能評価
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熱伝導率測定（プローブ法）（室温）
絶縁性の固体の熱伝導率を測定します。 【試験対象】 プラスチック、ゴムなど
化学技術部
- 熱物性測定
- 高分子材料
- #熱分析
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示差熱熱重量測定（ＴＧ／ＤＴＡ）
TG/DTA測定は、物質の温度を一定のプログラムに従って変化させながら、その物質の質量変化(TG)お...
化学技術部
- 熱物性測定
- セラミックス・無機酸化物
- 高分子材料
- #熱分析
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示差走査熱量測定（ＤＳＣ）
試料の温度変化に伴う熱の流出入（熱流束）を測定する試験です。試料に融解や結晶化といった転移が起こると...
化学技術部
- 熱物性測定
- 高分子材料
- #熱分析
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走査型プローブ顕微鏡観察
原子ステップサファイア及び電子線レジストパターン 走査プローブ顕微鏡(SPM)は先端サイズがナ...
電子技術部
- 微細構造観察
- 電子材料
- #原子間力顕微鏡
- #形状測定
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走査電子顕微鏡写真撮影
FE-SEM 装置の外観 材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察 【試験対象】 各...
機械・材料技術部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- #破面
- #電子顕微鏡
- #表面観察
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電子線後方散乱回折（EBSD)法による結晶方位測定
走査電子顕微鏡に付属された電子線後方散乱回折（EBSD）図形を観測する装置を用いて、観察視野内での結...
機械・材料技術部
- 微細構造観察
- 金属材料
- #結晶方位
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実体顕微鏡写真撮影
実体顕微鏡写真撮影の様子 破損した材料(鉄鋼、アルミニウム合金、銅合金)および機械部品の破壊面...
機械・材料技術部
- 外観観察
- 金属材料
- #光学顕微鏡
- #形状観察
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表面観察（FE-EPMAによる）
材料および機械部品の表面ならびに破壊面の観察 【試験対象】 金属、セラミックス、樹脂等 ...
機械・材料技術部
- 微細構造観察
- 電気・電子製品
- 塗装・メッキ製品
- #JKA
- #厚さ・膜厚
- #不具合
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プラスチック製品の破断面観察
プラスチック製品の破損原因の調査のため、製品の割れた面（破断面）を詳細に観察します。
化学技術部
- 外観観察
- 高分子材料
- #破面