依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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熱伝導率測定
固体、粉体、ゲルおよび液体の熱伝導率を測定します。 【試験対象】 断熱材、プラスチック、ゴム、...
化学技術部
- 熱物性測定
- 金属材料
- 無機材料
- セラミックス・無機酸化物
- #熱分析
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恒温槽（極低温対応）
電子技術部
- 温湿度評価
- 電気・電子製品
- #環境試験
- #性能評価
- #耐久性
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電気機器・耐電圧試験
電子機器／部品、絶縁材料などの絶縁耐力を測定。JIS、電気用品安全法 等の各種規格に対応し、以下の測...
電子技術部
- 電気計測・試験
- 電気・電子製品
- #安全性評価
- #性能評価
- #電気計測機器
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ハイブリッドレーザー顕微鏡観察
微小部品の三次元形状観察、測定・白色コンフォーカル機能による高精細画像取得、非接触三次元形状測定 視...
電子技術部
- 微細構造観察
- セラミックス・無機酸化物
- #JKA
- #厚さ・膜厚
- #形状測定
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電源周波数磁界イミュニティ試験
電源周波数磁界イミュニティ試験器 電源周波数磁界イミュニティ試験は、電力線やトランス、モーター...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #電磁環境試験機器
- #EMC
- #IEC
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非破壊超音波映像撮影
超音波を用いて、電子部品、金属・樹脂材料などにおける内部欠陥を検出し映像化する。 【試験対象】...
電子技術部
- 非破壊検査
- 電気・電子製品
- 機械製品
- #不具合
- #内部観察機器
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半導体パラメータ測定
半導体デバイスアナライザを用いて半導体素子のI-V特性（電流と電圧の関係）やC-V特性（容量と電圧の...
電子技術部
- 半導体・実装
- 電気・電子製品
- #半導体特性評価
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顕微鏡試料調製
切断機・研磨機 鉄鋼、アルミニウム合金、銅合金や機械部品等観察試料の切断と樹脂埋包 【...
機械・材料技術部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[S-4800]
FE-SEM S4800 ・材料の表面形態観察を30倍から80万倍の範囲で観察できます。・光学...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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電波吸収率測定（簡易アンテナ法）
電子材料の電磁波に対する吸収性能を測定します。 【試験対象】電波吸収体一般実験室で角度特性（7...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #高周波特性評価
- #電磁ノイズ
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電波透過特性測定（マイクロ波帯）
電子材料の電波に対する透過特性（反射特性も一部可）を測定します。 【試験対象】樹脂材料、磁性材...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 磁性材料
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #高周波特性評価
- #電磁ノイズ
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マイクロ波電磁波シールド効果測定 (1GHz～ 8.5GHz、2焦点型扁平空洞)
電子材料の電磁波に対するシールド効果を測定します。 【試験対象】金属材料、磁性材料、繊維材料2...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #高周波特性評価
- #電磁ノイズ