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半導体カーブトレーサを用いて、パワー半導体（IGBT、パワーMOSFETなど）の静的な電気特性を測定...

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #半導体特性評価

電子技術部

• 半導体・実装
• 性能評価

• 電気・電子製品

• #薄膜作成・成膜

電子線リソグラフィによる電子線レジスト樹脂への高精細パターン形成 【試験対象】　ウエハサイズ：...

電子技術部

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• 電気・電子製品
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• #薄膜作成・成膜
• #微細加工

空気清浄機によるたばこ煙成分の脱臭試験（JEM1467に準じた試験法）

川崎技術支援部

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• 電気・電子製品
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• #空気浄化
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• #光触媒

UV露光による感光性樹脂への高精度転写 両面パターンにも対応可 【試験対象】　ウエハサイズ：2...

電子技術部

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• #薄膜作成・成膜
• #微細加工

ウルトラミクロトーム法 ウルトラミクロトームは各種顕微鏡に用いるための試料を作製する装置です。...

川崎技術支援部

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• 試料調製・前処理

• （材料共通）

• #微細加工

イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...

川崎技術支援部

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• （材料共通）

• #微細加工

イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...

川崎技術支援部

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XeランプSSによる連続照射 Xe光源下での光照射を行います。

川崎技術支援部

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低照度環境下におけるI-V測定 低照度環境におけるI-V測定を行います。

川崎技術支援部

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太陽電池のI-V測定 一般に太陽電池の発電性能評価はI-V測定という手法が用いられます。 ...

川崎技術支援部

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太陽電池のIPCE測定

川崎技術支援部

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