依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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高コントラスト包埋剤の試用
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #前処理
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各種コーティング（カーボンコーティング他）
SEMやFIBの導電性処理として、各種のコーティングを行います。※金属コーティングは断面観察時におい...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- 無機材料
- セラミックス・無機酸化物
- 高分子材料
- #前処理
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ウルトラミクロトーム法
ウルトラミクロトーム法 ウルトラミクロトームは各種顕微鏡に用いるための試料を作製する装置です。...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル）
低エネルギーイオンミリング（ジェントルミル） 透過電子顕微鏡（TEM）サンプルのダメージ層除去...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #前処理
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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イオンミリング法 （大きい試料用）
イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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イオンミリング法 （小さい試料用）
イオンミリング法は、イオンミリング装置を用いて、サンプルをアルゴンイオンビームで、イオン研磨すること...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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精密機械研磨法
精密機械研磨装置（EM TXP）は光学顕微鏡、SEMおよびTEM用試料の切断・研磨のためのターゲット...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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集束イオンビーム装置観察（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
FIB-SEM Xvision200TB 高精度加工・極低加速電圧加工が可能な集束イオンビーム...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
分析透過電子顕微鏡 EM002BF ♠数千倍から数百万倍まで、広範囲の倍率で試料の微細構造観察...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析