依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル（不具合）が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
（依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。）
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各種コーティング（カーボンコーティング他）
SEMやFIBの導電性処理として、各種のコーティングを行います。※金属コーティングは断面観察時におい...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- 無機材料
- セラミックス・無機酸化物
- 高分子材料
- #前処理
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集束イオンビーム装置観察（FIB-SEM/EDS）[XVision 200TB]
FIB-SEM Xvision200TB 高精度加工・極低加速電圧加工が可能な集束イオンビーム...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #微細加工
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レーザーマーキング
分析箇所の特定のため、レーザーマーカーを用いマーキングを行います。レーザーマーカーは試料表面をCCD...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #レーザ加工
- #微細加工
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画像解析システム
FIB-SEMで取得した画像を画像解析システムにて、三次元再構築等の画像解析を行います。
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #画像解析
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集束イオンビーム装置観察（マルチ解析用・FIB-SEM/EDS/EBSD）[Scios LoVacシステム]
FIB-SEM scios 最新のFIB-SEMです。局所領域の断面加工と観察、TEM試料作製...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
- #微細加工
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精密機械研磨法
精密機械研磨装置（EM TXP）は光学顕微鏡、SEMおよびTEM用試料の切断・研磨のためのターゲット...
川崎技術支援部
- 試料調製・前処理
- （材料共通）
- #微細加工
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分析透過電子顕微鏡観察（FE-TEM/EDS）[EM002BF]
分析透過電子顕微鏡 EM002BF ♠数千倍から数百万倍まで、広範囲の倍率で試料の微細構造観察...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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走査電子顕微鏡観察（電界放出型・FE-SEM/EDS）[JSM-7800F Prime]
FE-SEM 7800F 最新の高性能電子光学系により、金属や半導体、セラミクス、有機物、磁...
川崎技術支援部
- 微細構造観察
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #元素分析
- #電子顕微鏡
- #結晶構造解析
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フーリエ変換赤外分光分析（FT-IR）
フーリエ変換赤外分光光度計 フーリエ変換赤外分光光度計は樹脂やゴム，油，接着剤などの有機化合物...
川崎技術支援部
- 有機物定性分析
- （材料共通）
- #異物
- #トラブル対策
- #組成分析
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）深さ方向分析
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（...
川崎技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
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微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析
微小部蛍光Ｘ線分析（XRF） 面分析 蛍光Ｘ線(XRF)分析装置は、試料にＸ線を照射し発生する...
川崎技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- #異物
- #トラブル対策
- #有害物質規制（有害元素）
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Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS）表面分析（ワイドスキャンのみ）
Ｘ線光電子分光分析（走査型・XPS） 表面分析（ワイドスキャンのみ） 極表面に、どのよ...
川崎技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析