依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル(不具合)が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
(依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。)
試験を探す
-
X線光電子分光分析(走査型・XPS)深さ方向分析[休止中]
極表面に、どのような元素が存在するか分析することができます。試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(...
川崎技術支援部
- 固体・表面分析
- 金属材料
- 無機材料
- 高分子材料
- #変色
- #表面分析
- #組成分析
-
三次元座標測定(光学式測定)[休止中]
*** 現在、本装置は使用できません。 *** 光学式三次元座標測定機を用いての、寸法や形状の...
情報・生産技術部
- 寸法測定・形状測定
- 電気・電子製品
- 機械製品
- #精密測定
- #形状測定
-
電子線リソグラフィ
電子線リソグラフィによる電子線レジスト樹脂への高精細パターン形成 【試験対象】 ウエハサイズ:...
電子技術部
- 微細加工
- 電子材料
- 電気・電子製品
- #薄膜作成・成膜
- #微細加工
-
音響インテンシティ測定
機械・材料技術部
- 音響
- 機械製品
- #物理特性試験機
- #音響
-
マイクロ波・ミリ波伝送特性測定(Sパラメータ・TDR測定)
技術概要 本測定では、マイクロ波帯からミリ波帯における高周波伝送特性を、4ポートのベクトル・ネ...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #トラブル対策
- #性能評価
- #試験計測
-
ネットワークアナライザ測定(マルチポート)
4ポートのベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)にスイッチマトリクスを組み合わせることで、最大...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #高周波特性評価
-
ネットワークアナライザ測定(4ポートまで)
測定周波数範囲が9kHz~8.5GHzの4ポートのベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)を用い...
電子技術部
- 電磁環境・EMC
- 電気・電子製品
- #高周波特性評価
-
イオンミリング法による試料調製
イオンビームを用いた断面試料作製 【試験対象】 金属、セラミックス、めっき、塗膜等 クロ...
機械・材料技術部
- 試料調製・前処理
- (材料共通)
- #微細加工
-
耐熱性試験
化学技術部
- 塗膜・めっき性能評価
- 塗装・メッキ製品
- #性能評価
- #耐久性
-
触針式薄膜段差計による膜厚測定
電子技術部
- 半導体・実装
- 電子材料
- #半導体特性評価
-
発電面積規定用遮光マスク(面積測定済み)
発電面積規定用遮光マスク(面積測定済み)
川崎技術支援部
- 太陽電池評価
- 太陽電池
- #太陽電池評価
-
太陽電池のインピーダンス測定
太陽電池のインピーダンス測定
川崎技術支援部
- 太陽電池評価
- 太陽電池
- #太陽電池評価