依頼試験一覧 COMISSIONED TEST
製品や原材料の品質確認、トラブル(不具合)が発生した場合の原因究明などが必要になったときに、KISTECの職員が分析、測定などを行うサービスです。
お客様のお話を伺ったうえで、適切な方法をご提案します。試験実施後は、お申し込み時にご指定の方法で結果をお渡しします。
(依頼試験は、KISTECの試験計測事業でお受けします。)
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マイクロ波誘電率・透磁率測定(Sパラメータ法)
本試験では、ベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)を用いたSパラメータ測定により、電子材料など...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- 電子材料
- #高周波特性評価
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マイクロ波誘電率測定(BCDR法)
周波数範囲 10GHz~67GHz において、材料の誘電率および誘電正接(誘電損失)を測定します。 ...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 電子材料
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- #技術開発
- #性能評価
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マイクロ波誘電率測定(共振器法・誘電体プローブ法)
本試験では、ベクトル・ネットワーク・アナライザ(VNA)を使用し、マイクロ波帯域における電子材料の誘...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 電子材料
- #高周波特性評価
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磁化特性測定(VSM方式)
振動試料型磁力計(VSM)によってB-H曲線、M-H曲線、保磁力、残留磁束密度(残留磁化)、磁化率な...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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磁化特性測定(積分方式)
BHカーブトレーサを用いた直流B-H測定によって、B-H曲線、初磁化曲線、保磁力、残留磁束密度、最大...
電子技術部
- 電磁気特性評価
- 磁性材料
- #磁気特性評価
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磁歪測定
磁性材料に磁場を与えた(磁化した)時の歪量を測定します。レーザー変位測定方式/歪分解能:0.08μm...
電子技術部
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磁化温度特性測定
VSM装置を用いて-196~800℃における磁性材料のB-H曲線、M-H曲線/磁気モーメント-温度特...
電子技術部
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薄膜交流透磁率測定
薄膜高周波透磁率測定装置を用いて磁性膜の高周波透磁率を測定します。 測定周波数範囲100k~100M...
電子技術部
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交流磁化特性測定
交流磁化特性測定装置を用いて交流B-H曲線・鉄損・交流磁化時の透磁率を測定します。 【試験対象...
電子技術部
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マイクロ波誘電率・透磁率測定(ハーモニック共振器法)
ハーモニック共振器法を用いたマイクロ波帯の電子材料の誘電率、透磁率の周波数特性測定 【試験対象...
電子技術部
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