材料解析分野

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主な測定分野

1.機器分析

 XPSやFT-IR、光学顕微鏡などを用いた機器分析を行っています。

 

 測定機器一覧

機器名 メーカー・型式 概要

走査型線光電子分光分析装置
(μ‐
XPS μ-ESCA

アルバック・ファイ社  Quantera SXM

試料表面の極薄い層(数nm)の元素分析(水素、ヘリウム以外)、半定量分析(検出限界~0.1at%程度)および化学結合状態分析ができます。

フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)

日本分光 FT/IR-6300FV、IRT-7000

フーリエ変換赤外分光光度計は樹脂やゴム,油,接着剤などの有機化合物の構造を解析する分析装置の一つで、異物混入や構成部材の材質違いなど製品トラブルの初期段階で目星をつけるために利用されます。

微小部蛍光X線分析装置(XRF)

SIIナノテクノロジー SEA6000VX  HSFinder

蛍光X線(XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認(定性)や、検出された各元素のピーク強度を理論計算(FP法)することで大まかな含有量(半定量)を得ることができる装置です。

 

2.環境試験

 恒温恒湿槽を用いた温湿度環境試験や電磁環境試験を行っています。

 

 測定機器一覧

機器名 メーカー・型式 概要

恒温恒湿槽

楠本化成 TH411HA

一定温湿度での試験用。

プログラムによる温湿度の自動可変運転が可能です。

恒温恒湿槽

楠本化成 FX424P

一定温湿度での試験用。

プログラムによる温湿度の自動可変運転が可能です。

マイクロフォーカスX線検査装置(μF‐X線)

エスペック PL-3FPW

一定温湿度での試験用。

プログラムによる温湿度の自動可変運転が可能です。

3.電磁環境試験

機器名 メーカー・型式 概要

放射雑音測定(放射妨害波測定)

EMI測定システム

 + 

小型電波暗室 (TDK株式会社)

GPS,無線LAN,携帯電話など、電磁妨害波(ノイズ)を発生する電子機器が増加しています。

このような機器から放射されたノイズが他の電子機器を誤動作させる場合があります。

雑音端子電圧測定

MI測定システム

 + 

シールドルーム :ノイズ研究所製/SH-H1313

電子機器に接続されたケーブル(電源線や通信線)を伝わる伝導性妨害波(ノイズ)が、規格限度を超えていないかを評価します。

電源高調波電流測定

パワーアナライザー (Voltec製 PM3000ACE)

電源高調波電流とは、電源周波数の整数倍で同期した電源ラインに流れる高調波電流のことです。テレビ・パソコン・インバーターエアコン・電子レンジ等整流回路を持つ電気製品は高調波を発生します。