「試験計測等料金表」令和6年4月1日改定のお知らせ          〔新設・名称等変更・削除項目 追加〕

 日頃、KISTECを御利用いただき、誠にありがとうございます。

 既に御案内させていただきました通り、「試験計測等料金表」が令和6年4月1日から改定されます。

 新料金表につきましては、以下の試験計測等料金表(PDF版)をご確認ください。

  試験計測等料金表(PDF版)はこちら

 また、同日付で以下のとおり、試験項目が新設・名称等変更・削除されます。

● 新規に追加される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金                                                               単位:円

No.項 目単 位料 金担当部名
E0215摩耗試験1試料1条件につき7,700機械・材料技術部
E0216摩耗試験 1件増1条件増すごとに3,520機械・材料技術部
E0775接合強度試験(はんだ継手強度試験)1測定条件につき(5測定点まで)9,130電子技術部
E0776接合強度試験(ワイヤーボンディング強度試験)1測定条件につき(5測定点まで)10,780電子技術部
E0777接合強度試験(ダイシェア試験)1測定条件につき(5測定点まで)11,660電子技術部
E0985高出力高精細X線CT撮影1時間当たり16,830機械・材料技術部
E1340冷熱衝撃試験(中・ハイパワータイプ)8時間まで15,510電子技術部
E1341冷熱衝撃試験(中・ハイパワータイプ)8時間増8時間増すごとに7,700電子技術部
E1555電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験1時間まで10,120電子技術部
E1556電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動イミュニティ試験 1時間増1時間増すごとに5,610電子技術部
E1801試料調製(1)(一般的な前処理)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用
10,890化学技術部
E1802試料調製(2)(複雑な前処理)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用
14,300化学技術部
E1803試料調製(3)(困難な前処理)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用
21,230化学技術部
E1804試料調製(4)(非常に困難な前処理)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用
29,150化学技術部
E1805切粉作製(A)(加工が容易なもの)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用
3,080化学技術部
E1806切粉作製(B)(加工がやや難しいもの)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1891,E1892,E1911,E1921,E4010,
E4020 に適用
10,560化学技術部
E2215試料調製(溶出前処理)E2211,E2212に適用4,730化学技術部
E2281シャルピー衝撃試験(室温)1試験片につき2,310化学技術部
E3065試験途中の試料観察(槽からの取り出し無し)1回につき(E3060に適用)440化学技術部
E3066試験途中の試料観察(槽からの取り出し有り)1試料1回につき(E3060に適用)1,430化学技術部
E3067試験途中の試料洗浄1試料1回につき(E3066に適用)660化学技術部
E3068試験途中の試料抜き去り1試料1回につき(E3060に適用)440化学技術部
E3326冷却遠心分離 1時間増1時間増すごとに(E3325に適用)5,060化学技術部
E4173粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)(A)湿式または乾式1試料につき6,490機械・材料技術部
E4174粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)(B)湿式(有機溶媒)1試料につき8,470機械・材料技術部
E4175粒径分布測定(レーザ回折・散乱法)(C)特殊なもの1試料につき10,450機械・材料技術部
E4183粒径分布測定(静的画像解析法)(A)(簡易な評価)1試料につき4,730機械・材料技術部
E4184粒径分布測定(静的画像解析法)(B)1試料につき8,030機械・材料技術部
K3075光触媒のメチルメルカプタン除去性能試験1試験につき71,610川崎技術支援部

● 名称等変更される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金                                                               単位:円

No.項 目単 位料 金担当部名
E0110 引張・圧縮・曲げ試験(1)(簡単な試験)1試験につき2,530 機械・材料技術部
E0120引張・圧縮・曲げ試験(2)(比較的簡単な試験)1試験につき3,740機械・材料技術部
E0130引張・圧縮・曲げ試験(3)(標準的な試験)1試験につき5,500機械・材料技術部
E0140引張・圧縮・曲げ試験(4)(やや複雑な試験)1試験につき7,480機械・材料技術部
E0150引張・圧縮・曲げ試験(5)(複雑な試験)1試験につき10,560機械・材料技術部
E0160製品強度試験(1)(簡単な試験)1試験につき8,690機械・材料技術部
E0165製品強度試験(2)(標準的な試験)1試験につき15,510機械・材料技術部
E0170製品強度試験(3)(複雑な試験)1試験につき24,090機械・材料技術部
E0180硬さ試験1点につき1,100機械・材料技術部
K5330
E0295X線応力測定1試料1か所1方向につき6,050機械・材料技術部
E0415疲労試験 1時間以内1試験につき5,060機械・材料技術部
E0420疲労試験 8時間以内1試験につき17,050機械・材料技術部
E0431疲労試験 大型構造物 8時間以内1試験につき23,540機械・材料技術部
E0510電流電圧測定1試料1条件につき3,080電子技術部
E0570低抵抗測定1試料1条件につき4,180電子技術部
E0660電気機器・漏れ電流測定1試料1条件につき4,400電子技術部
E0680電気機器・接地回路の抵抗測定1試料1条件につき4,290電子技術部
E0750絶縁抵抗試験1試料1条件につき5,170電子技術部
E2885ノッチ加工1試験片につき(E2881に適用)1,980化学技術部
E3050浸せき試験室温で実施の場合 1試料24時間まで(試験液費用は別途負担)4,730化学技術部
E3325冷却遠心分離1時間まで5,390化学技術部
E4510試料調整(1)
(のこ盤、かんな盤などによる試験片作製)
1試料(30分につき)1,650情報・生産技術部
E5137総フラボノイド定量(塩化アルミニウム法による)1試料につき5,060化学技術部
K36102灯式SSによる連続照射24時間につき(150mm角まで 山下電装YSS-T150Aを使用)54,670川崎技術支援部
K36122灯式SSによる連続照射 追加追加24時間につき(150mm角まで 山下電装YSS-T150Aを使用)52,800川崎技術支援部
K3010光触媒の窒素酸化物除去性能試験1試験につき71,170川崎技術支援部
K3015光触媒の窒素酸化物除去性能試験 -再生率-1試験につき20,020川崎技術支援部
K3050光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験1試験につき48,840川崎技術支援部
K3055光触媒のアセトアルデヒド除去性能試験 -バッグ法1試験につき44,990川崎技術支援部
K3060光触媒のトルエン除去性能試験1試験につき44,880川崎技術支援部
K3070光触媒のホルムアルデヒド除去性能試験1試験につき66,110川崎技術支援部
K3020光触媒のセルフクリーニング試験 湿式分解性能の測定1試験につき48,620川崎技術支援部
K3030光触媒のセルフクリーニング試験 水接触角の測定1試験につき71,610川崎技術支援部
K3080光触媒の水浄化性能試験(JISR1704準拠)(明条件のみ)1試験につき81,840川崎技術支援部
K3085光触媒の水浄化性能試験(JISR1704準拠)(暗条件のみ)1試験につき81,840川崎技術支援部
K3105光触媒性能試験JIS試験条件不成立時 (試験途中中止時)1試験につき24,310川崎技術支援部
K5340硬さ試験試料調製(第1種):容易なもの1試料につき1,980川崎技術支援部
K5341硬さ試験試料調製(第2種):比較的容易なもの1試料につき3,960川崎技術支援部
K9070技術開発受託報告書の複本・データ等の交付1通につき(写真を含む場合は別に加算することができる)297川崎技術支援部

機器使用料金                                                               単位:円(1時間当たり)

No.項 目メーカー・型式料 金担当部名
E8200絶縁抵抗計(表面および体積抵抗のみ)キーサイト・テクノロジー・4339B3,300電子技術部
E8220LCRメータYHP ・ YHP4285A3,190電子技術部
K2315電波暗室 (測定帯域 1GHz~6GHz)
 TDK製(3m法) (1時間以内)
TDK製(3m法)9,460川崎技術支援部
K2316電波暗室 (測定帯域 1GHz~6GHz)
 TDK製(3m法) (追加30分あたり)
TDK製(3m法)4,510川崎技術支援部

● 削除される試験項目は以下のとおりです。

試験計測料金                                                               単位:円

No.項 目単 位料 金担当部名
E0591四探針法による抵抗率測定1試料1測定につき10,230 電子技術部
E0690LCR測定1試料1条件につき9,460電子技術部
E0710LCR測定 1ヶ所増1試料につき測定点1ヶ所増すごとに3,080電子技術部
E0761はんだ継手強度試験1測定条件につき(10測定点まで)18,700電子技術部
E0762はんだ継手強度試験 5測定点増5測定点増すごとに8,470電子技術部
E0763ワイヤーボンディング強度試験1測定条件につき(10測定点まで)21,560電子技術部
E0764ワイヤーボンディング強度試験 5測定点増5測定点増すごとに9,900電子技術部
E0765ダイシェア試験1測定条件につき(10測定点まで)23,210電子技術部
E0766ダイシェア試験 5測定点増5測定点増すごとに10,670電子技術部
E0813電源変動および瞬停試験2時間まで12,100電子技術部
E0814電源変動および瞬停試験 1時間増1時間増すごとに6,050電子技術部
E1030薄膜屈折率測定1試料につき23,870電子技術部
E1040定エネルギー分光測定1条件につき36,080電子技術部
E1050膜厚測定1試料1測定点につき5,830電子技術部
E1051三次元微細形状測定標準1測定当たり12,540電子技術部
E1160イオンプレーティング成膜標準1試料当たり50,930電子技術部
E1170イオンプレーティング成膜 1条件増1条件増すごとに19,470電子技術部
E1940試料調製(1)(切粉作製等簡易な前処理)E1810,E1820,E1821,E1822,E1831,E1832,
E1860,E1932,E1933,E2021,E2211,E2212,
E2225,E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,
E2290,E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,
E4010,E4020に適用
1,870化学技術部
E1950試料調製(2)(難分解性試料等複雑な前処理)E1810,E1820,E1831,E1832,E1860,E1891,
E1892,E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,
E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,
E4020に適用
9,790化学技術部
E1960試料調製(3)(極微量物質の分離濃縮等困難な前処理)E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,
E1911,E2021,E2211,E2212,E2225,E2235,
E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,E2294,
E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,E4020に適用
16,280化学技術部
E1970試料調製(4)(抽出、濃縮等標準的な前処理)E1810,E1820,E1831,E1832,E1891,E1892,
E1841,E1860,E1911,E2211,E2212,E2225,
E2235,E2265,E2275,E2281,E2282,E2290,
E2294,E2295,E2310,E2330,E2340,E4010,
E4020に適用
5,170化学技術部
E2030試料調製(5)分取用 液体クロマトグラフ使用1試料1成分につき28,930化学技術部
E2040試料調製(6)分取用 液体クロマトグラフ使用 1成分増同試料1成分増すごとに3,740化学技術部
E2090顕微レーザーラマン分光分析 1条件増1条件増すごとに29,920機械・材料技術部
E2091顕微レーザーラマン分光分析 (簡単なもの)1試料1ヶ所につき20,460機械・材料技術部
E2773測定前温度調整1試料につき1時間毎(E2750,E2751,E2760,E2761,E2770に適用)3,190化学技術部
E2880衝撃試験(アイゾット・シャルピー)(室温)1試料につき6,380化学技術部
E3710剛軟度試験1試料1方向につき1,210化学技術部
E3730はっ水度試験1試料につき2,640化学技術部
E4181粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式)1試料、合成画像1視野につき4,730機械・材料技術部
E4182粒径分布測定(光学顕微鏡による画像解析式) 1視野追加合成画像1視野追加につき1,650機械・材料技術部
K1345高分解能分析走査電子顕微鏡(FE-SEM/EDS)SEM観察 ArクリーナーArクリーナーの使用10分につき2,200川崎技術支援部
K1415TEM試料調製 電解研磨法1試料につき27,390川崎技術支援部
K1420TEM試料調製 イオンミリング法 易1試料につき100,870川崎技術支援部
K1421TEM試料調製 イオンミリング法 中1試料につき201,740川崎技術支援部
K1422TEM試料調製 イオンミリング法 難1試料につき297,000川崎技術支援部
K1642集束イオンビーム装置(FIB) (連続自動加工)追加1時間あたり(ただし、設定可能なものに限る)16,610川崎技術支援部
K1651FIBオプション タングステン膜デポジション10分あたり2,420川崎技術支援部
K1660FIBオプション マイクロプロービングシステム1時間あたり18,150川崎技術支援部
K1942マルチ解析用集束イオンビーム装置(FIB)(連続自動加工)追加1時間あたり(ただし、設定可能なものに限る)16,500川崎技術支援部
K1955マルチ解析用FIBオプション Easy Lift1時間あたり17,930川崎技術支援部
K3460分光照度計による照度、演色性、色温度などの測定1試料1測定(5回測定)につき2,200川崎技術支援部
K4175電解研磨法1試料につき27,390川崎技術支援部
K4176イオンミリング法  易1試料につき100,870川崎技術支援部
K4177イオンミリング法  中1試料につき201,740川崎技術支援部
K4178イオンミリング法  難1試料につき297,000川崎技術支援部

機器使用料金                                                        単位:円(1時間当たり)

No.項 目メーカー・型式料 金担当部名
E6620電極形成装置の本体システムKHエレクトロニクス・特別仕様   18,920電子技術部
E6650定エネルギー分光器日本分光・YQ-250CW-GT11,990電子技術部
E6660ボロメータ評価システム用高温電気測定用チャンバテクノロ工業・特別仕様4,510電子技術部
E6670ボロメータ評価システム用光源システム日本分光・SS-25GT12,100電子技術部
E6980焼き付け装置デルタデザイン(米国)・9023型880電子技術部
E8010薄膜屈折率測定装置溝尻光学・DHA-XA型8,800電子技術部
E8040C-V測定装置YHP・4280A5,830電子技術部
E8150膜厚計小坂研究所・T4000AKR2,860電子技術部
E8190マルチフリケンシャルLCRメータYHP・YHP4274A/YHP4275A2,860電子技術部
E8430ガウスメータ(最小測定レンジ:2mT、最大測定レンジ:2T)ベル・9200型880電子技術部
K2610マニピュレーター SISA-30TI-2 (30分あたり)ナリシゲ・SISA-30TI-22,860川崎技術支援部
K2642集束イオンビーム装置 XVision200TB (1時間あたり)SII社・ XVision200TB53,350川崎技術支援部
K2660TEM用グリッド (1個あたり)3,740川崎技術支援部
K2690TEM用グリッド(1個あたり) Scios使用ナリシゲ・ SISA-30TI-22,860川崎技術支援部
K2681マルチ解析用集束イオンビーム装置 Scios (1時間あたり)FEI社・ Scios51,810川崎技術支援部
K2778電磁波妨害源探査装置  EPS-M1 (1時間以内)ノイズ研究所・EPS-M12,640川崎技術支援部
K2779電磁波妨害源探査装置  EPS-M1 (追加30分あたり)ノイズ研究所・EPS-M11,320川崎技術支援部

詳細は担当部にお問い合わせください。

引き続き皆様のご利用をお待ちしております。