川崎技術支援部

川崎・溝の口で、様々な現象解析(破損・変質、劣化等) 微細構造解析、環境試験、評価試験に対応します。

  • 生産ライン、市場で発生する様々な材料トラブルの原因究明サポートを実施しています。
  • 材料の微細構造を解析し、材料に発現する様々な機能の可視化をサポートしています。
  • 様々な環境を提供し、材料、製品の耐久特性の可視化をサポートしています。
  • 光触媒、太陽電池の評価を、国内外から受託し、製品開発までサポートしています。

担当分野の紹介

川崎技術支援部では、以下の測定分野で業務を行っています。

材料解析分野

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主な測定分野

1.機器分析

XPSやFT-IR、光学顕微鏡などを用いた機器分析を行っています。

2.環境試験

恒温恒湿槽を用いた温湿度環境試験や電磁環境試験を行っています。

3.電磁環境試験

EMI測定システムを用いた放射雑音測定などの試験を行っています。

最近の測定電磁環境試験・試験事例

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微細構造解析分野

 SEM、TEM、FIB等による材料の微細構造解析。機能発現のメカニズム解明サポートを行っています。

主な測定機器

FE-SEM(JEOL 7800F, 日立S-4800)
FE-TEM(Topcon)
FE-TEM(FEI)
FIB-SEM(FEI sios)
FIB-SEM(SII XVision)
断面イオンミリング(JEOL CP)
断面・平面イオンミリング(GATAN)
精密機械研磨(Leica EM-TXP)
ウルトラミクロトーム(RMC MT-X)
低エネルギーイオン研磨装置(Gentle Mill)

最近の測定・試験事例

FE-SEMによる観察事例
TiO2ナノチューブの電子顕微鏡観察事例
ミクロトームを活用したHIPS(耐衝撃性ポリスチレン)の観察事例
鉄鋼材料の転位観察事例
粘着部の低真空SEM観察事例
防振ゴムの断面観察事例
市販トナーの断面観察事例

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光機能分野

 光触媒、太陽電池の評価や、耐光試験などを行っています。

主な測定分野

1.光触媒機能評価

JIS規格で規定されている試験以外の評価にも対応しております

2.太陽電池評価

3.光学特性評価

材料の透過率・反射率測定や光のスペクトルを測定できます

4.光劣化促進試験

材料に疑似太陽光や紫外光を照射して劣化を加速します

主な測定機器

最近の測定・試験事例

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