エレクトロニクス・環境試験フォーラム

　近年、温暖化防止やSDGsの観点から電子部品や機器の長寿命化が求められています。この長寿命化を実現するためには製品開発において限られた開発期間、サンプル数で将来起こりえる故障を予測する加速試験の活用が不可欠です。本フォーラムでは、電子機器や電子部品の主な故障要因であるはんだクラックやマイグレーションなどによるショート故障を短時間に評価する加速試験（温度サイクル試験やHAST等）について紹介します。