１．機器分析 | 材料解析分野

XPSやFT-IRなど、光学顕微鏡などを用いた機器分析を行っています。

測定機器一覧

機器名	メーカー・型式	概要
走査型X線分光分析装置（μ-XPS・μ-ESCA）	アルバック・ファイ　Quantera SXM	試料表面の極薄い層（数nm）の元素分析（水素、ヘリウム以外）、半定量分析（検出限界値～0.1at%程度）および化学結合状態分析ができます。
フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）	日本分光　FT/IR-6300FV、IRT-7000	フーリエ変換赤外分光光度計は樹脂やゴム、油、接着剤などの有機化合物の構造を解析する分析装置の一つで、異物混入や構造部材の材質違いなど製品トラブルの初期段階で目星をつけるために利用されます。
微小部蛍光X線分光装置（XRF）	SIIナノテクノロジー　SEA6000VX HSFinder	蛍光X線（XRF)分析装置は、試料にX線を照射し発生する蛍光X線を測定することで元素の確認（定性）や、検出された各元素のピーク強度を理論計算（FP法）することで大まかな含有量（半定量）を得ることができる装置です。
金属顕微鏡	オリンパス　BX51	光を上から照射して、その反射光線の反射程度により表面状態を調べる顕微鏡です。主として金属材料の研磨面を観察します。
デジタルマイクロスコープ	キーエンス　VHX-600	実体顕微鏡と金属顕微鏡の機能を一台に集約し計測機能も装備した光学顕微鏡
マイクロフォーカスX線検査装置（μF-X線）	メディエックステック　MXT-160UU	物質によるX線の透過率の差を利用して、微小な部品、BGA、CSP、デバイスなどの内部に存在する亀裂や欠陥を非破壊で観察することができます。
硬さ試験機		金属材料やセラミックスの機械的特性である硬さを測定します。