金属ナノ粒子のTEM観察事例

  • 金属ナノ粒子の形状やサイズをTEM観察で明らかにしました。

    <使用機器>
    分析透過電子顕微鏡(FE-TEM/EDS)

    <作業工程>
    試料前処理(分散懸濁法)  →  TEM観察

    <納期>
    担当職員にお問い合わせください。

    <測定例>

ご利用を希望される方へ

今回のようなFE-TEM(分析透過電子顕微鏡)による金属ナノ粒子の観察実施した場合は、下記料金表が適用されます。

試験計測料金

NO.項目単位料金担当部名
K1411TEM試料調製 分散法 懸濁法懸濁法 1試料につき11,990川崎技術支援部
K1440電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍以下倍率 10万倍以下 1視野につき17,710川崎技術支援部
K1445電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍以下 1視野増倍率 10万倍以下 1視野増すごとに8,800川崎技術支援部
K1441電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野につき23,430川崎技術支援部
K1446電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)10万倍を超えて50万倍以下 1視野増倍率 10万倍を超えて50万倍以下 1視野増すごとに13,310川崎技術支援部
K1450電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)50万倍を超えて200万倍以下倍率  50万倍を超えて200万倍以下 1視野につき32,340川崎技術支援部
K1455電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)50万倍を超えて200万倍以下 1視野増倍率  50万倍を超えて200万倍以下 1視野増すごとに17,710川崎技術支援部
K1451電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの倍率 200万倍を超えるもの 1視野につき46,860川崎技術支援部
K1456電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)200万倍を超えるもの 1視野増倍率 200万倍を超えるもの 1視野増すごとに27,830川崎技術支援部
K1460電界放出型分析透過電子顕微鏡(FE-TEM)試料傾斜調整試料傾斜調整 1条件ごとに12,210川崎技術支援部
観察条件および撮影枚数により費用は変わりますので、詳細は担当職員にお問い合わせください。
ご要望に応じて見積書を作成いたします。
  • この装置・試験等に関連するお問い合わせ
  • 担当:川崎技術支援部