【開催中止】2020年3月17日(火)「エレクトロニクスフォーラム(非破壊な材料評価~X線回折とレーザ顕微鏡を中心に~)」開催のご案内
※新型コロナウイルスの状況を鑑み、本フォーラムを中止することとなりました。
このたび当研究所では、本フォーラムを、下記のとおり開催いたします。このフォーラムは、電子材料を評価する設備をじっくり見学していただくことを、趣旨としています。
皆様のご参加をお待ちしております。
開催要領
■日時 |
2020年3月17日(火曜日) 14:00~16:30 |
■場所 |
(地独)神奈川県立産業技術総合研究所(海老名市下今泉705-1) 管理情報棟2階 講義室2-5 |
■申込方法 |
・下記の参加申込みフォームへ必要事項を記載のうえ、送信してください。 ・事前申込締め切りは、3月16日(月) です。 |
■問合先 |
電子技術部 電子デバイスグループ 栗原 幸男 電話:046(236)1500 |
開催スケジュール
14:00~14:10
◆ 開会挨拶
神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 栗原 幸男
14:10~14:25
■ 当研究所のX線回折、ラマン分光のご紹介
神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 金子 智
14:25~14:40
■ 当研究所のレーザ顕微鏡、膜厚計のご紹介
神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 黒内 正仁
14:55 (実験室へ移動)
15:00~16:15
■ 各実験室での電子材料評価設備の見学
神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 栗原、金子、八坂、秋山、安井、黒内
X線回折、レーザ顕微鏡、ラマン分光、ボンドテスタ、膜厚計、エリプソ、ホール測定、半導体パラメータ測定
16:20~16:30
■ 質疑応答
神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 金子 智
16:30
◆ 閉会挨拶
神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 栗原 幸男
※フォーラム開催中止により、お申込フォームは閉鎖しました