【開催中止】2020年3月17日(火)「エレクトロニクスフォーラム(非破壊な材料評価~X線回折とレーザ顕微鏡を中心に~)」開催のご案内

※新型コロナウイルスの状況を鑑み、本フォーラムを中止することとなりました。

 このたび当研究所では、本フォーラムを、下記のとおり開催いたします。このフォーラムは、電子材料を評価する設備をじっくり見学していただくことを、趣旨としています。

 皆様のご参加をお待ちしております。

開催要領

■日時

2020年3月17日(火曜日) 14:00~16:30

■場所

(地独)神奈川県立産業技術総合研究所(海老名市下今泉705-1

管理情報棟2階 講義室2-5

■申込方法

・下記の参加申込みフォームへ必要事項を記載のうえ、送信してください。

・事前申込締め切りは、3月16日(月) です。

■問合先

電子技術部 電子デバイスグループ   栗原 幸男

 電話:046(236)1500

開催スケジュール

14:00~14:10

◆ 開会挨拶

 神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部  栗原 幸男

14:10~14:25

■ 当研究所のX線回折、ラマン分光のご紹介

 神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部  金子 智

14:25~14:40

■ 当研究所のレーザ顕微鏡、膜厚計のご紹介

 神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部  黒内 正仁

14:55 (実験室へ移動)

15:00~16:15

■ 各実験室での電子材料評価設備の見学  

 神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 栗原、金子、八坂、秋山、安井、黒内

X線回折、レーザ顕微鏡、ラマン分光、ボンドテスタ、膜厚計、エリプソ、ホール測定、半導体パラメータ測定

16:20~16:30 

■ 質疑応答

 神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部 金子 智

16:30

◆ 閉会挨拶 

 神奈川県立産業技術総合研究所 電子技術部  栗原 幸男

[contact-form-7 404 "Not Found"]