ナノ表面計測・評価フォーラム｜＠海老名会場
KISTEC Innovation Hub 2026 フォーラム番号：e19-1
対面開催
ナノ表面計測・評価
ナノ領域での表面形態や表面・界面の物性の評価に有用な装置についてご紹介いたします。
今回は、2025度導入された表面形状や物性(機械・電気・熱特性)の評価が可能な走査型プローブ顕微鏡について基礎的な事項（原理）や活用例を中心にご講演をいただきます。
また、関連装置としてナノインデンテーション装置、摩擦摩耗試験機についてもご紹介いただきます。
開催概要
フォーラム詳細
| 時間 | タイトル | 講演者名 | 講演者所属 |
|---|---|---|---|
| 10：00～10：05 | 開会挨拶 | 菅間 秀晃 | KISTEC 電子技術部 |
| 10：05～10：55 | 原子間力顕微鏡（AFM）による材料・デバイス評価の新たな可能性 ～Dimension Iconを活用した形状・機械・電気・熱特性解析～ | 寺山 司 | ブルカージャパン株式会社 |
| 10：55-11：25 | 材料開発と品質評価に役立つナノインデンテーション試験の基礎と活用事例 | 二軒谷 亮 | ブルカージャパン株式会社 |
| 11：35-12：05 | トライボロジーの基礎と摩擦摩耗試験機 UMT TriboLab の評価事例 | 塚本 和己 | ブルカージャパン株式会社 |
| 12：05-12：20 | 走査型プローブ顕微鏡の紹介と分析事例 | 黒内 正仁 | KISTEC 電子技術部 |
＊敬称略
＊11月以降に概要資料を掲載予定（一部）
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ご注意事項
- 申込〆切：11/16（月）、お申込みは先着順にて承ります。
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- やむを得ない事情により、日程・内容等の変更や中止をする場合があります。
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