不具合原因の分析と対応力向上セミナー｜オンデマンドコース(6/3~7/2)・対面コース(6/20~6/21)
KISTECは人づくりから貴社の技術的成長を支援します。様々な製品不具合に関する相談・分析経験の豊富な職員が、実例を交えながら、製品不具合対応の重要ポイントを解説します。本講座はこのような目的にぜひご活用ください。新任の品質管理担当の方や、新入社員の方の研修にも最適です。
- 製品不具合が発生する背景を理解したい。
- 製品不具合が発生した際の担当社員の対応力はどうしたら向上するかを知りたい。発生しても慌てずに対応できるようになるには、どう進めればよいのかを知りたい。
- 対応力の維持…担当が変われば一から出直し、という状況から脱するための継続的な教育として。
- 分析技術のアップデート…教科書で勉強するよりも実学で。対面コースでは分析経験豊富な専門家の実演とQ&Aで、実感を伴って理解できます。
- 材料づくりから製品完成までの一貫した製造プロセスを考えることで、品質向上の動機付けに。
- そのほか、対面コースの質疑応答セッションでは分析に関する様々なご質問にお答えします。オンデマンドコースでは個別の質問・相談タイムをご用意します。
対象
ものづくりに携わる企業の皆様、特に以下のような課題をお持ちの方にお勧めします。
・ 新入社員、品質管理のご担当になられて間もないため、事前知識を身に付けたい。
・ 製品の不具合対応に日々悩んでいる （がどうしてよいか分からない）。
・ 不具合対応をその場しのぎとせず、品質向上の機会にしたい。
・ 問題発生時の経験を社内で蓄積し、顧客からの信頼度アップにつなげたい。
・ 最新の分析装置が、どのくらい不具合解析に役に立つかを知りたい。
中小・ベンチャーから中堅・大手まで、職種・役職を問わず、すべての方にご受講いただけます。
講師からのメッセージ
現場で起こっている不具合・故障トラブル。その場しのぎの対応で問題解決を先送りせず、原因を分析し、前へ進めるためのステップを実践的に学ぶ講座です。
技術が発達しても製品不具合はなくならないのはなぜでしょうか。製造プロセスが複雑化する中で、不具合対応はますます難しくなっています。
本セミナーは、トラブルを前にただ立ちすくんだり、その場しのぎで先送りせず、見通しを立て、現場で起こっている不具合・故障の解析をとにかく前へ進めるための実践的な学びの場として設定しました。問題の定量化や仮説の構築など、いくつかのステップを経て、再現試験による問題終結（ファイル・クローズ）までの過程を、具体的なイメージとして共有します。
現場で起こるトラブルを社内と顧客の理解共有による品質向上の機会としてとらえ、ポジティブな経験の積み重ねによる社内体質の改善と対外的な信頼獲得までを見通せることを目標とします。
トラブルの無いものづくりはありえません。不具合・故障を起点に、品質向上のプロセスを問い直すことからはじめ、製造・品質管理・営業を含めた「作り手」の考え方を変える・・・。
将来に通用するトラブル対応の基礎固めとして、本セミナーをご活用ください。（KISTEC技術アドバイザー 阿久津康久）
オンデマンドコース
動画（ストリーミング配信）+個別質問タイム
オンデマンドコースの特徴
- 動画13本（所要約6時間）のボリューム！期間中いつでも、何度でも。
- 不具合対応を基本から学べます。
- 個別質問タイムは職場の方の同席可
- 分析のご相談も承ります
期間：6月3日（月）～7月2日（火）
動画
- オリエンテーション 本セミナーの狙いと進め方
- 不具合・故障解析を進めるための基本 ～「そもそも」から考える
- 「技術が発達したのになぜ不具合が尽きないのか？」
- 「なぜあわてる、焦るのか？」
- 不具合解析の進め方のセオリー
- フロー（経験）をストック（蓄積）へ
- KISTECの紹介と活用テクニック
- 解析事例の紹介
- ショートラボツアー①～③
- 分析装置紹介・分析事例
- 光学顕微鏡
- 走査電子顕微鏡（SEM）
- フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
- 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
- 走査型Ｘ線光電子分光分析装置（μ-XPS）
- 電子線マイクロアナライザ（EPMA）
個別質問タイム
期間中、ご予約制で承ります（zoomを使ったオンライン質疑、20分）。職場の方もご同席の上、皆様でご参加いただくことができます。
対面コース
講義+たっぷり装置の実演と解説
対面コースの特徴
- 1日目は長年分析に携わった講師が製品不具合の捉え方、不具合が起きた時の対処の仕方、社内の体質改善に必要な手順などを講義
- 2日目は装置で実際に分析に携わるKISTEC職員による解析事例の紹介、試料の取り扱い、不具合解析の勘所等を解説
- 実演装置：光学顕微鏡、走査電子顕微鏡(SEM)、フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR)、微小部蛍光Ｘ線分析装置(XRF)、走査型Ｘ線光電子分光分析装置(μ-XPS)
- 装置の実演は1グループ4名の少人数制
- 実演のない装置もラボツアーでご紹介
6月20日（木）
13:00-13:20 オリエンテーション 本セミナーの狙いと進め方
13:20‐13:30 KISTECの紹介と活用テクニック
13:30‐14:50 不具合・故障解析を進めるための基本 ～「そもそも」から考える
- 「技術が発達したのになぜ不具合が尽きないのか？」
- 「なぜあわてる、焦るのか？」
- 不具合解析の進め方のセオリー
- フロー（経験）をストック（蓄積）へ
15:05‐16:00 解析事例の紹介
16:00-16:40 KISTEC溝の口支所ラボツアー
16:40‐17:00 質疑応答
6月21日（金）
10:00-10:45 分析装置紹介、分析事例
11:00-16:00 不具合解析で活躍する分析装置の紹介、分析装置の実演と解説（少人数制）
- 光学顕微鏡
- 走査電子顕微鏡（SEM）
- フーリエ変換赤外分光光度計（FT-IR）
- 微小部蛍光Ｘ線分析装置（XRF）
- 走査型Ｘ線光電子分光分析装置（μ-XPS）
16:15‐16:45 質疑応答
講師
阿久津 康久 KISTEC技術アドバイザー（オンデマンドコース、対面コース）
KISTEC機械・材料技術部（オンデマンドコース）、KISTEC川崎技術支援部（オンデマンドコース、対面コース）
受講料
オンデマンドコース 14,000円（消費税10％を含む）
オンデマンドコース複数お申込み割引き料金
| お申込み人数 | 講座料金（お一人につき） |
|---|---|
| 5人以上 | 11,200円（消費税10％を含む） |
| 10人以上 | 9,800円（消費税10％を含む） |
| 15人以上 | 8,400円（消費税10％を含む） |
対面コース料金表
| 区 分 | 全日程 |
|---|---|
| A 一般 | 35,000円（消費税10％を含む） |
| B KISTEC 会員 C 神奈川県内中小企業 | 28,000円（消費税10％を含む） |
| D C以外の神奈川県内企業 E 神奈川県内在住の個人の方 | 31,500円（消費税10％を含む） |
対面コース会場
会場
かながわサイエンスパーク内講義室（川崎市高津区坂戸3－2－1）
Map・アクセス詳細はこちら
- ＪＲ南武線「武蔵溝ノ口」・東急田園都市線「溝の口」下車 シャトルバス 5 分
- JR 新横浜駅より東急バス（有料）直行「溝の口駅」行き30 分 「高津中学校入口」下車徒歩3分 東急バスのアクセスはこちら
※感染症対策を実施の上で開催いたします。 感染症対策の詳細はこちら
申込要領
- （オンデマンドコース）Zoomの推奨環境を事前にご確認ください。予めHPより「オンライン講座に関する規約」をご確認の上、 お申込みください。「オンライン講座に関する規約」（PDF）はこちら
- （オンデマンドコース）PC、インターネット通信環境(有線LAN接続、Wi-Fi推奨)、PCに接続可能なマイク、カメラ、スピーカーをご用意ください。
- 受講資格はお申込みをいただいた方(１申込１名)に限ります（オンデマンドコース個別質問会への職場の方の同席は可）。
- 申込締切後、受講決定者には受講票・受講料請求書等の必要書類をお送りします。
- 申込締切後でも、定員に余裕がある場合はお申込みを受付けられる場合がありますのでお問合せください。
- 対面コースをお申込みの場合、２日間通して出席した方には｢修了証｣を発行いたします。
- 講義中、許可なく講義内容の一部、およびすべてを複製、転載または撮影、配布、印刷など、第三者の利用に供することを禁止します。
- やむを得ない事情により、日程・内容等の変更や中止をする場合があります。
- その他、お申込みについてご不明な点は、主催者へお問い合わせください。
「不具合原因の分析と対応力向上セミナー【オンデマンドコース・対面コース】のパンフレットはこちら（約1MB)
お申込み（「お申し込みはこちら」をクリックしてください）
主催：神奈川県立産業技術総合研究所(KISTEC)
人材育成部 教育研修課 教育研修グループ
TEL：044-819-2033
以下お問い合わせフォームをご利用の場合は、
「講座・研修に関するお問い合わせ」をお選びください。