Microstructure analysis of β-FeSi2 grown on Ag-coated Si(001) substrate

登録コード 689
タイトル Microstructure analysis of β-FeSi2 grown on Ag-coated Si(001) substrate
キーワード β-FeSi2, thin film, epitaxial relationship, atomic resolution, energy dispersive X‐ray spectroscopy
著者/共著者名 Shunichi Motomura ,Kohei Hayashi,Masaru Itakura,and Kensuke Akiyama
誌名・書名 Physica Status SolidiC
出版社 WILEY-VCH
出版年月 2013年 12月
巻−号 Volume10.Issue12
ページ 1815 - 1818
言語 英語
DOI http://dx.doi.org/10.1002/pssc.201300359
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